二、产品型号

ST-TSD-615FL

三、控制仪表

可程序温度控制器全触摸屏控制器，触摸屏输入，根据客户要求可任意设定不同高低温冲击温度点，满足做测试的不同需求.(具有温度报警显示、实时温度曲线显示)

四、设备用途

广泛用于电子电器零组件塑胶等行业、自动化零部件、通讯组件、汽车配件、金属、化学材料、塑料等行业，国防工业、航天、兵工业、BGA、PCB基扳、电子芯片IC、半导体陶磁及高分子材料之物理性变化进行试验,用来测试材料结构或复合材料，在瞬间下经超高温及极低温的连续环境下所能忍受的程度，藉以在最短时间内试验其热胀冷缩所引起的化学变化或物理变化。

五、两箱式特点

二箱设备区分为高温区、低温区二部分，测试产品置于提篮中, 冲击时提篮将测试产品移

进高温区或低温区进行衡击,测试产品为动态式。

·二箱移动式冷热冲击，安全的气压驱动测试物上下来回冲击。

·采进口彩色触控LCD中/英文微电脑温度控制器。

·无纸式记录功能，具实时显示温度冲击试验变化之曲线图及记录双重功能。

·冷热冲击机构移动时间在10秒内，可符合MIL，LEC，JIS等规范。

·冷热冲击温度恢复时间在5分钟内，可符合相关试验规范。

·采用R404和R23环保冷媒，二元超低温冷冻系统设计，降温快、效率高。

六、容积、尺寸和重量

6.1.内容积

150L

6.2.内箱尺寸

W600*H500*D500（mm）

6.3.外型尺寸(约)

约W1600*D2000*H2100（mm）

6.4.重  量

约700kg

七、性能指标

7.1.测试环境条件

机器周围环境温度维持在+25~+30℃之间，相对湿度：≤85%；气压：86kPa～106kPa正常大

气压力。

7.2.满足标准

 .GB/T2423.1-2008 低温试验方法Test method of low tempemture test

·GB/T2423.2-2008  高温试验方法Test method of high temperature test

·GB/T2423.22-2012 温度变化试验Test of temperature chantge

·GJB150.5-86温度冲击试验Test of temperature shock

·GJB360.7-87温度冲击试验Test of temperature shock

·GJB367.2-87温度冲击试验Test of temperature shock

·QC/T17-92、EIA364-32、IEC68-2-14等

7.3.测试室温度范围

-60℃～+150 ℃ (风冷式)

7.3.1.低温冲击范围

-10℃～-60 ℃  任意可调）

7.3.2.高温冲击范围

60℃～150 ℃  （任意可调）

7.4.高温室

7.4.1.预热温度范围

RT～+170℃

7.4.2.升温时间

RT→+170℃ ≤30min 注：升温时间为高温室单独运转时的性能

7.5.低温室

7.5.1.预冷温度范围

RT～-75℃

7.5.2.降温时间

RT→ -75℃≤约50min 注：降温时间为低温室单独运转时的性能

7.6.试验室（试样区）

7.6.1.试验方式

把产品摆放在吊篮测试区，二箱移动式冷热冲击，安全的气压驱动测试物上下来回冲击。

7.6.2.温度波动度

±0.5℃

7.6.3.温度偏差

±2.0℃

7.6.5.温度恢复时间

≤5min；转换温度只需要≤10s（吊篮移动时间：5秒以内）

7.7.冲击暴露时间

≥30min